光谱椭偏仪

光谱椭偏仪

  • 型号 QTYJ1400
  • 产地 武汉

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主要功能:可以测量透明膜,无膜固体样品,多层膜,吸收膜和众多性能不同、厚度不同、吸收程度不同的薄膜,甚至是强吸收的薄膜,膜层厚度和光学常数、半导体及其氧化物成分的折射率和厚度、润滑层的厚度和表面粗糙度。

应用领域:半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药。

最大样品尺寸:300mm直径;

最大样品厚度:15mm·

波长范围:245-1000nm

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