半导体分离器件失效分析

半导体分离器件失效分析

  • 型号 JXWS0206
  • 产地 东莞

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"器件类型:二极管、三极管、双级型晶体管、场效应晶体管、闸流晶体管;
主要失效模式:开路、短路、烧毁、漏电、功能失效、电参数漂移、⾮稳定失效等"

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