光学差式扫描显微分析系统

光学差式扫描显微分析系统

  • 型号 QTJL0164
  • 产地 乌鲁木齐

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测定材料的熔点、结晶点、玻璃态转化(Tg)、氧化诱导期(OIT)、纯度、化学组成。样品形貌观察、拍照。拍照物镜放大倍数5×、10×、50×、100×,存在透射光、反射光两种拍照方式。

1)温度范围:-196-600℃;

2)温度精度0.1℃;

3)最大冷冻速率130/min;

4)光孔直径1.3mm

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