样品表面形貌分析,5B-92U间所有元素的定性、定量分析(点、线、面分析模式)。
1)SEM 分辨率:高真空:3.0nm(30kV);10nm(3kV) 低真空:4.0nm(30kV);
2)放大倍数: 5-300,000;
3)加速电压:0.3-30kV多种步进调压方式
型号 | QTJL0156 |
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产地 | 乌鲁木齐 |
样品表面形貌分析,5B-92U间所有元素的定性、定量分析(点、线、面分析模式)。
1)SEM 分辨率:高真空:3.0nm(30kV);10nm(3kV) 低真空:4.0nm(30kV);
2)放大倍数: 5-300,000;
3)加速电压:0.3-30kV多种步进调压方式