利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/38试片、石英楔子和分划目镜、移动尺等附件,最重要的部件是偏光装置——起偏器和检偏器。 将普通光改变为偏振光进行镜检的方法,以鉴别某一物质是单折射(各向同行)或双折射性(各向异性)
1、分辨率:1.0nm;加速电压:0.5-30KV,样品台尺寸:可装直径不小于100mm的样品;
2、加速电压30KV,二次电子SE像观察样品表面形态,明场DF-STEM像观察样品质厚衬度,暗场DF-STEM像观察Z衬度,原子序数衬度,有机物等轻元素测试获得高反差的图像;
3、采用Si3N43新型SDD探测器窗口,坚固耐用,晶体有效活区面积30mm2,X射线信号透过率比传统的聚合物材料提高35%。分析元素范围:Be4~AM95;
4、eZAF定量方法,增强基体校正,适合平整的表面,样品倾斜范围扩展到70度,从而支持EBSD分析条件下的定量分析;
5、PaBaZAF定量方法,考虑了样品表面斜度对定量结果的影响,适合粗糙样品或颗粒样品的定量分析
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