利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/24试片、石英楔子和分划目镜、移动尺等附件,最重要的部件是偏光装置——起偏器和检偏器。 将普通光改变为偏振光进行镜检的方法,以鉴别某一物质是单折射(各向同行)或双折射性(各向异性)
可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。可广泛应用于纳米技术、半导体、电子行业、生命科学、材料科学等领域的材料结构分析;该仪器配备了高性能X射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。
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