透射电子显微镜（JEM-2100Plus）

该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力，可以轻松实现透射高分辨像、明/暗场像、STEM像和衍射像等功能。

1）分辨率：点分辨率≤0.19 nm，线分辨率：≤0.14 nm；
2）束斑尺寸：TEM模式20-200nm；DS模式<0.5-25nm；
3）加速电压：80,100,120,160,200KV合轴数据内置，步长50V；
4）TEM放大倍数：LOW MAG模式×50-6k；MAG模式×2k-1500k